電子產(chǎn)品可靠性設計/試驗與故障分析技術(shù)

開課地點：	廣州
授課時間：	2012年10月13-14日
授課顧問：	張增照
開課時間：	2012-10-13
市場報價：	0
購買價格：	0
審核時間：	我要報名2012-10-05 16:56:20

　　

學習對象

系統(tǒng)總質(zhì)量師、研發(fā)主管、產(chǎn)品質(zhì)量師、設計師、工藝師、研究員，質(zhì)量可靠性管理和從事電子元器件（包括集成電路）失效分析工程師

課程目標

課程目標：
幫助工程設計、試驗和管理人員明確可靠性設計的目的并掌握可靠性設計和試驗方法

課程內(nèi)容

課程大綱：
一、客戶要求的可靠性指標分解方法
案例:要求累積故障率的情況
案例:要求年維修率的指標分析
二、可靠性設計
⒈可靠性設計的思路、設計失敗的案例
⒉某型計算機可靠性設計缺陷分析
⒊降額設計⒋容差分析
案例:振蕩器最壞情況分析法
⒌邊緣性能設計、案例⒍儲備（冗余）設計
⒎潛在通路分析
案例:潛在通路；案例:潛在時間；
案例:潛在標志；案例:潛在指示；
⒏電子產(chǎn)品熱設計
a溫度對電子設備可靠性的影響b電子設備熱的來源c熱設計的目的
d熱設計的程序e熱設計中元器件布局案例f熱設計中元器件的安裝原則、安裝失誤案例
g鼓風機的選擇與安裝h冷卻劑流道設計i改善熱設計的方法及案例
案例:密封電子設備案例:機載電子設備
⒐防閂鎖設計a閂鎖的來源b閂鎖的預防
⒑案例:可維護性設計
⒒軟件可靠設計技巧、軟件可靠設計案例
⒓ESD防護aESD損失案例bESD防護的實施
三、可靠性試驗
⒈可靠性試驗及其分類⒉可靠性測定試驗
點估計、區(qū)間估計⒊可靠性鑒定試驗
a試驗大綱b試驗條件c試驗樣品d一次抽樣檢驗方案的基本原理
e序貫截尾試驗方案f案例分析
⒋高加速壽命試驗（HALT）與高加速應力篩選（HASS）
aHALT和HASS的概念與應用范圍b高加速的基本原理
cHALT/HASS試驗過程及方法d開展HALT和HASS的幾點看法
⒌加速壽命實驗
a壽命試驗的分類b壽命試驗的測試點c壽命試驗的數(shù)據(jù)處理
d加速壽命試驗的理論依據(jù)e加速應力的選擇f樣品數(shù)量的選擇
g激活能的計算h雙應力加速實驗法
⒍可靠性實驗案例介紹
案例:已知置信度和MTBF時的實驗測定
案例:已知置信度和可靠度時的實驗測定
案例:案例加速壽命實驗測定法
案例:可靠性鑒定實驗
四、故障模式、影響及危害度分析（FMEA）
⒈FMEA的意義和作用、運載火箭的案例分析
⒉FMEA的分類（系統(tǒng)FMEA、設計FMEA和工藝FMEA）FMEA的實施步驟
⒊FMECA的標準方法⒋報警器的FMEA分析案例
⒌QS9


和16949的FMEA方法⒍分析案例
⒎影響FMECA工作效果的因素
五、電子元器件的選用控制
⒈元器件的質(zhì)量等級⒉DPA與失效分析技術(shù)
⒊半導體器件質(zhì)量的鑒別
六、電子元器件的主要失效模式與預防
⒈半導體器件的主要失效模式與預防
⒉集成電路的主要失效模式與預防
⒊阻容元件的主要失效模式與預防
⒋繼電器的主要失效模式與預防
⒌其他元器件的主要失效模式與預防

師資力量

備注信息